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  • FS-1FilmSense三維形貌儀

    FilmSense三維形貌儀可通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量,快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析,適用于薄膜材料的快速測量表征.

    更新時間:2024-03-19
    型號:FS-1
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:15296
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